直流四探针电阻率测试仪BEST-300C

通过PC软件操作界面运行，四探针低阻测量和接触电阻分析，自动生成报表，自动获得压力变化下电阻，电阻率和电导率的变化图谱，样品厚度测量，自动运算.统计分析.
在中国标准分类中，四探针法涉及到半金属与半导体材料综合、金属物理性能试验方法、、、电工合金零件、特种陶瓷、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、电阻器、半导体集成电路、工程地质、水文地质勘察与岩土工程、水环境有毒害物质分析方法、电工材料和通用零件综合、半金属、元素半导体材料、金属无损检验方法。
7.测试方式: 四探针测量（体电阻率）和四端法（接触电阻测量）
分辨率：  醉小1μΩ
13.温湿度范围：常温-50度；湿度：20%-98%
GB/T 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法
电导率：5×10-6～1×108ms/cm
11. 加压方式：自动
误差：±0.2%读数±2字


GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
12. 样品高度量程和精度：高度测量范围：0.001-10.001mm，测量分辨率0.001mm
配套方案：解决各材料状态 --固态、液态、气态、颗粒状 电阻、电阻率、电导率测量
1.方块电阻范围：10-6～2×102Ω/□   
显示方式：液晶显示用于双板材料本体电阻率和双板与炭纸之间的接触电阻的测量和分析.
1）.电脑和打印机依据客户要求配置；    
测量电压量程：?2mV?  20mV? 200mV?2V?
4.电流精度：±0.1%读数
8.压力范围：0-1000kg（0-4MPa）.
9. 样品形状为正方形（镀金电为5cm×5cm)，面积为25cm2（其他规格定制）
提供中文或英文两种语言操作界面选择，满足国内及国外客户需求
量程：1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，1000mA,?
测量精度±（0.1%读数）
电阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm、
10.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz? 功 耗：<30W
本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料之电导率。液晶显示，*人工计算，并带有温度补偿功能，电导率单位自动选择，BEST-300C 材料电导率测试仪自动测量并根据测试自动转换量程，*人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成图表和报表。
GB/T 20042.6-2011质子交换膜燃料电池 6部分：双板特性测试方法中四探针低阻测量和接触电阻测试方法及要求；
分辨率：  0.1uV  1uV  10uV  100uV
2）.计量证书1份
三.参数资料
2.电阻率范围：10-7～2×103Ω-cm
GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
测量误差±5%
标准分类中，四探针法涉及到半导体材料、金属材料试验、绝缘流体、兽医学、复合增强材料、电工器件、无损检测、集成电路、微电子学、土质、土壤学、水质、电子显示器件、有色金属。
GB/T 14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定.直排四探针法


17.标配外选购：
3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA
二.参照标准：
本仪器采用4.3寸大液晶屏幕显示，同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度、压强值、单位自动换算，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
5.电阻精度：≤0.3%
四端测试法是目前较先进之测试方法，主要针对高精度要求之产品测试；本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。
电阻测量范围：
GB/T 6617-1995 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
16. 工作电源：220±10% 50HZ/60HZ
电流输出：直流电流?0～1000mA?连续可调，由交流电源供电。
电阻：1×10-5～2×105Ω
6.PC软件界面：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率、电阻率、压强等.
14.恒压时间：0-99.9S
主机外形尺寸：330mm*340mm*120mm
15.标配标准件：a.标准校准电阻1个；b.标准高度校准件1个

http://junzaizan0101.cn.b2b168.com
欢迎来到北京市北广精仪仪器设备有限公司网站， 具体地址是北京市海淀区上地科技园上地十街1号，老板是李丛林。 主要经营电压击穿试验仪。 单位注册资金单位注册资金。